XPS Measurments of high dose low-energy nitrogen implanted into aluminum - Sullivan, John; Wroński, Zdzisław; Saied, Sayah O.; Sielanko, Juliusz (Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej)
Keywords: spektroskopia fotoelektryczna; fotojonizacja; bobmardowanie jonami; jony -- implantacja